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http://zh.wikipedia.org/zh-tw/X%E5%85%89%E6%95%A3%E5%B0%84%E6%8A%80%E6%9C%AFX光繞射（X-ray diffraction）技術可以用於研究分子的構象或形態。X光繞射技術是基於X光在穿過長程有序物質所發生的彈性散射。單晶X射線繞射：用於解析晶態物質中分子的整體結構，研究範圍可以從小的無機小分子到複雜的大分子，如蛋白質；可用單色性X光或連續波長X光（即「勞厄法」）進行研究。 粉末繞射：也是一種獲得晶體（微晶）結構的方法，所用樣品為多晶態或粉末固態晶體。粉末繞射通常用於鑒定未知物質，主要通過將繞射數據與繞射數據國際中心（International Centre for Diffraction Data，ICDD）中的繞射資料庫進行比較。這一技術或可用於鑒定非均一態的固體混合物，確定其中含量相對豐富的晶態物質；而且，當與網格修正技術（如Rietveld修正）連用時，還可以提供未知物質的結構信息。粉末繞射也是確定晶態物質晶系的常用方法，並可用於測定晶體顆粒的大小。
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X光繞射（X-ray diffraction）技術可以用於研究分子的構象或形態。X光繞射技術是基於X光在穿過長程有序物質所發生的彈性散射。
單晶X射線繞射：用於解析晶態物質中分子的整體結構，研究範圍可以從小的無機小分子到複雜的大分子，如蛋白質；可用單色性X光或連續波長X光（即「勞厄法」）進行研究。
粉末繞射：也是一種獲得晶體（微晶）結構的方法，所用樣品為多晶態或粉末固態晶體。粉末繞射通常用於鑒定未知物質，主要通過將繞射數據與繞射數據國際中心（International Centre for Diffraction Data，ICDD）中的繞射資料庫進行比較。這一技術或可用於鑒定非均一態的固體混合物，確定其中含量相對豐富的晶態物質；而且，當與網格修正技術（如Rietveld修正）連用時，還可以提供未知物質的結構信息。粉末繞射也是確定晶態物質晶系的常用方法，並可用於測定晶體顆粒的大小。
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